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Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

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Gegenstand des Beschaffungsvorhabens ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines aberrationskorrigierten 200 kV Transmissionselektronenmikroskops (S/TEM) einschließlich analytischer Detektorsysteme, Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Das System dient als zentrale Analyseplattform für die hochauflösende strukturelle, chemische und elektronische Charakterisierung von Materialien auf atomarer und nanometergenauer Skala. Es wird sowohl für industrielle Auftragsanalytik als auch für wissenschaftliche Forschungsprojekte eingesetzt. Im Institut werden Materialien mit stark variierenden Eigenschaften untersucht, insbesondere Metalle, Legierungen, keramische Werkstoffe, Halbleiter, Beschichtungen, funktionale Schichtsysteme sowie nanostrukturierte Materialien. Die Proben unterscheiden sich hinsichtlich Geometrie, Stabilität gegenüber Elektronenstrahlbelastung sowie analytischer Fragestellungen. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf: - hochau

Status
Closed
Deadline
Published
Country
Germany
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Source document
https://oeffentlichevergabe.de/api/notice-exports?pubMonth=2026-07
Document fingerprint
1e212f621354509b (SHA-256, first 16 hex characters)
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Source: Datenservice Öffentlicher Einkauf (Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz). CC0 1.0 (CC-ZERO) — no conditions.

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