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FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

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1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien

Status
Closed
Deadline
Published
Country
Germany
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Source document
https://oeffentlichevergabe.de/api/notice-exports?pubMonth=2026-07
Document fingerprint
1e212f621354509b (SHA-256, first 16 hex characters)
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Source: Datenservice Öffentlicher Einkauf (Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz). CC0 1.0 (CC-ZERO) — no conditions.

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