Integrert system for elektrisk karakterisering og probing av halvleder- og nevromorfe komponenter
Open
This is the status published by the official source.
Universitetet i Oslo skal bygge opp et nytt forskningsmiljø innen nevromorf maskinvare og energieffektiv kunstig intelligens. Aktiviteten skal koble materialutvikling ved Senter for materialvitenskap og nanoteknologi (SMN) med kompetansen innen krets- og systemdesign ved Institutt for informatikk. Et sentralt behov er å kunne karakterisere elektriske komponenter fra tidlig material- og komponentutvikling til mindre arrays og demonstratorer. Dette gjelder blant annet ferroelektriske tunnelkontakter, ferroelektriske transistorer, resistive minnekomponenter og andre komponentkonsepter med relevans for nevromorf elektronikk. Anskaffelsen består av to tekniske hoveddeler (delkontrakt 1 og delkontrakt 2): En modulær enhet for elektrisk måling og karakterisering En semiautomatisk probestasjon med temperaturkontroll
- Status
- Open
- Deadline
- Published
- Country
- Norway
- Funder
- Universitetet i Oslo
- Official page
- Open at the source portal
What applying involves
2 steps, all of them taken from this call's own documents.
Understand the call
- Read the call on the source portal and download its documents
Submit
- Submit before the closing date shown above
Similar opportunities
- Apparatuur voor Verpakking van Vermogenselektronica
- Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
- Beschaffung eines universellen nanomechanischen Prüfsystems
- Nabava sistema za preizkušanje električnih strojev, pogonov in komponent v klimatski komori po sklopih
- Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
- Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Where this came from
- Source document
- https://api.doffin.no/public/v2/search?type=ANNOUNCEMENT_OF_COMPETITION&numHitsPerPage=500&page=1
- Document fingerprint
d26c04276566fe48(SHA-256, first 16 hex characters)- Collected
- First recorded here
What has changed
- url first recorded as https://www.doffin.no/notices/2026-115943 on
- deadline first recorded as 2026-11-17 on
- published_on first recorded as 2026-10-14 on
- status_basis first recorded as source_status on
- status first recorded as open on
- title first recorded as Integrert system for elektrisk karakterisering og probing av halvleder- og nevromorfe komponenter on
Data source
Kilde: Doffin — Direktoratet for forvaltning og økonomistyring (DFØ).
We collected this from the source on .
Personal data of natural persons has been dissociated by quiescence.eu.
This service is not affiliated with, sponsored or endorsed by the data publishers.